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NI第十二屆“中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”在京舉行

引領(lǐng)PXI技術(shù)創(chuàng)新
2015-06-08 16:35 6680
由美國國家儀器有限公司(National Instruments)主辦的第十二屆“中國PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇”(PXI Technology & Application Conference) 北京站會(huì)議圓滿閉幕。

上海2015年6月8日電 /美通社/ -- 由美國國家儀器有限公司 (National Instruments,簡稱 NI) 主辦的第十二屆“中國 PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇”(PXI Technology & Application Conference,即 PXI TAC) 北京站會(huì)議圓滿閉幕。在今年的 PXI TAC 會(huì)議上,NI 展示了 PXI 最新的技術(shù)發(fā)展以及應(yīng)用案例,推出了業(yè)界首款基于 PCle 第三代技術(shù)的 PXI 嵌入式控制器和高帶寬 PXI 機(jī)箱,大幅推動(dòng)了 PXI 技術(shù)的進(jìn)步和 PXI 在高性能應(yīng)用場合中的廣泛應(yīng)用。

NI第十二屆 “中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”北京站會(huì)議圓滿閉幕
NI第十二屆 “中國PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇”北京站會(huì)議圓滿閉幕

 

NI PXI平臺(tái)和儀器研發(fā)副總裁Robert Canik
NI PXI平臺(tái)和儀器研發(fā)副總裁Robert Canik

NI 始終致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn),在本次 PXI TAC 會(huì)議上,NI 詳細(xì)介紹了基于 Intel Xeon 處理器的 NI PXIe-8880 控制器和業(yè)界首款采用第三代 PCI Express 技術(shù)的 NI PXIe-1085 機(jī)箱。NI PXI 平臺(tái)和儀器研發(fā)副總裁 Robert Canik 表示:“未來的自動(dòng)化測試和控制將會(huì)更加復(fù)雜、要求更快速度和更高品質(zhì)。在這種背景下,PXI 平臺(tái)憑借其靈活、開放的特性,加之 NI 的圖形化編程軟件 LabVIEW 的相輔相成,使其在測試測量領(lǐng)域占據(jù)絕對領(lǐng)先優(yōu)勢。全新的18槽機(jī)箱采用了第三代 PCI Express 技術(shù),每個(gè)插槽配備8條通道,以匹配 24 GB/s 的系統(tǒng)總帶寬,從而使任何測試和測量系統(tǒng)都能夠輕松滿足未來需求?!?/p>

面對爆發(fā)式無線技術(shù)的增長,PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇北京站活動(dòng)還設(shè)立了射頻應(yīng)用專題討論。專題以 PXI 射頻平臺(tái)為核心,介紹了無線領(lǐng)域前沿技術(shù)與最新應(yīng)用。同時(shí)北京站還開設(shè)了動(dòng)手課程,現(xiàn)場的與會(huì)者有機(jī)會(huì)親手參與構(gòu)建基于 PXI 技術(shù)的完整自動(dòng)化測試系統(tǒng),并完成自定義測量任務(wù),參與者在實(shí)踐中可親身體會(huì)到 PXI 技術(shù)的優(yōu)勢與便利。除北京站以外,2015 PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇還將陸續(xù)在廣州、西安、上海舉行。專題討論將覆蓋射頻應(yīng)用、消費(fèi)電子、國防與航空航天、汽車電子四個(gè)專業(yè)領(lǐng)域。

今年是 PXI 技術(shù)發(fā)展的第十八個(gè)年頭。自從1997年 NI 推出業(yè)界第一款 PXI 機(jī)箱開始,NI 就一直是 PXI 技術(shù)的創(chuàng)新者和領(lǐng)導(dǎo)者,18年來 NI 一如既往地追求卓越,不斷在測試測量領(lǐng)域進(jìn)行創(chuàng)新和持續(xù)投入。在中國,伴隨著2015年 PXI TAC 在北京站的成功舉辦,PXI 技術(shù)平臺(tái)將進(jìn)一步被測試測量界的工程師所接受,PXI 技術(shù)也幫助中國的客戶成功面對了各類應(yīng)用挑戰(zhàn)。相信 NI 所提供的開放式的 PXI 平臺(tái)在未來仍將幫助工程師與科學(xué)家們加速新興應(yīng)用的實(shí)現(xiàn)。

Photo - http://photos.prnasia.com/prnh/20150608/0861505044-a
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消息來源:美國國家儀器
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